• <menu id="keock"><strong id="keock"></strong></menu>

    鉑悅儀器(上海)有限公司

    產品中心

    更多產品 >>
    • 手持式X熒光光譜儀

      手持式X熒光光譜儀S1 TITAN重量輕(1.23kg,測量范圍Mg-U)、是基于X射線管技術的手持式XRF分析儀。

    • 科研手持XRF光譜儀

      TRACER 5g采用了一個帶有1μm石墨烯窗口的新探測器,石墨烯窗口取代了傳統的8μm鈹窗口

    • 微區X射線熒光光譜儀

      微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。

    • TXRF全反射X射線熒光光譜儀

      快速多元素痕量分析可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析,元素范圍13Al-92U。

    • 微區X射線熒光成像光譜儀PLUS

      M4 TORNADOPLUS是能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。

    • 便攜臺式xrf分析儀

      便攜式XRF分析儀適用于在實驗室外檢測固體、粉末和液體。

    • 手持式土壤重金屬分析儀

      手持式土壤重金屬分析儀實現了快速、準確分析土壤中的有害金屬元素Pb(鉛),As(砷),Cd(鎘),Hg(汞),Cu(銅),Ni(鎳),Zn(鋅),Cr(鉻)等有害元素,能夠實時對廠區、礦區、重工業區周.....

    • 探針式輪廓儀系統

      新型Dektak XTL探針式輪廓儀系統可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片及面板制造業。

    • 臺階儀-表面輪廓儀

      德國布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以達到5?。

    • 光學輪廓儀

      ContourGT-X是實驗室開發到批量生產均可適用的儀器。

    • 3D掃描儀 MICRON3D green

      同時碳纖維結構的耐受能力強,適用于寬廣的溫度范圍。

    • 薄膜厚度

      薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離,而實際上,薄膜的表面是不平整,不連續的,且薄膜內部存在著針孔、微裂紋、纖維絲、雜質、晶格缺陷和表面吸附分子等。

    • 反射膜厚儀

      反射光譜干涉法是一種非接觸式、快速的光學薄膜厚度測量技術。

    • Dimension FastScan

      掃描速度快、分辨率高的的原子力顯微鏡Dimension FastScan

    行業應用

    更多應用 >>

    技術文章

    更多文章>>

    新聞資訊

    更多新聞>>
    鉑悅儀器祝大家2021年元旦快樂! 2020-12-30

    感謝您一直溫暖陪伴!千語萬言的心,化作點點滴滴祝福的情。

    在線留言
    聯系我們

    電話:86-021-37018108

    傳真:86-021-57656381

    郵箱:info@boyuesh.com

    地址:上海市松江區莘磚公路518號松江高科技園區28幢301室

    友情鏈接: rohs分析儀   金屬分析儀   光譜儀報價   光譜儀報價   金屬分析儀   粘塵墊   IGBT模塊   金屬分析儀   鹽霧試驗機   手持式光譜儀   勞易測傳感器   高精度電池測試儀   真空干燥烘箱   消聲器廠家   卡套接頭   臺式離心機   防爆手拉葫蘆   測土配方施肥儀   元素分析儀   嵌入式電腦   電子雜志   鎢鋼沖頭  
    Copyright ? 2013 鉑悅儀器(上海)有限公司? 版權所有 備案號:滬ICP備10038023號-1 GoogleSitemap
    日本久久综合久久鬼色