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    鉑悅儀器(上海)有限公司

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    微區X射線熒光光譜儀

    更新時間:2020-12-14

    產品品牌:Bruker

    產品產地:

    產品型號:M4 TORNADO

    產品描述:微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。

    微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
    M4 TORNADO采用了技術,為各種用戶提供了佳的分析性能和方便的操控性。
    ·  采用多導毛細管聚焦鏡,照射光斑小,空間分辨率高。
    ·  渦輪增速X-Y-Z樣品臺,借助放大倍數可變的攝像系統獲得的樣品影像,可在“飛行中”進行元素分布分析。 
    ·  通過可選的雙X射線光管和多6個濾光片進行靈活的激發。
    ·  使用XFlash®探測器獲取樣品圖譜,另外,使用多個探測器可以進一步測量速度。
    ·  基于無標樣分析法準確定量分析塊狀樣品,準確分析多層膜樣品。
    ·  具有便捷進樣功能的可抽真空的樣品室

     

    行業應用:

    1.地球科學(巖心、巖石、沉淀物、微體化石、年輪等多元素分布成像、行掃描與相序分析。)

     


    2.司法鑒定、法醫及痕量分析(對衣物上的彈孔進行射擊殘留物GSR分析)


    3.藝術與考古(對文物進行顏料、色料的成分分析,修復文物)


    4.質量控制與故障分析儀(電子和電子部件元素分析,ROHS分析)
    5.發動機部件、電機/潤滑油(識別電機/潤滑油中的發動機磨損產物)
    6.生命科學(檢查樹木橫斷面/葉子/樹根年輪)
    7.材料科學(鋼材腐蝕檢驗)
    8.環境科學(土壤重金屬、污水污泥重金屬分析、空氣和城市廢物)
    9.過濾器上的薄膜(空氣濾膜)

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